助成実績

  • No.182A04
    2006年度

    マイクロうず電流深傷技術によるPCB基板の検査に用いる教師イメージの生成に関する研究

    対象者
    山田 外史(Komkrit) (金沢大・自然計測応用研究セ・教授)
    金額
    -
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