トップページ助成プログラム助成実績 調査・研究への助成 検査治具の低圧接触によるICのリード浮き検査の検査回路の開発 No.191A05 2007年度 検査治具の低圧接触によるICのリード浮き検査の検査回路の開発 対象者 小野 安季良(高木 正夫)(詫間電波工高専・講師) 金額 -